島津 掃描型X射線(xiàn)熒光光譜儀 XRF-1800型
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產(chǎn)品介紹
XRF-1800型
250μm微區分布成像分析功能!
XRF-1500/1700系列X射線(xiàn)熒光光譜儀是在首先開(kāi)發(fā)出微區分析/分布分析功能,采用了4KW薄窗X射線(xiàn)管,擴大了X射線(xiàn)熒光分析的應用領(lǐng)域,作為具有革命性的儀器而得到了很高評價(jià),業(yè)已銷(xiāo)售200余臺。
掃描型X射線(xiàn)熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細節都進(jìn)行了改進(jìn),使得儀器的可靠性與可操作性更進(jìn)一步提高,增加了250μm微區分布成像分析功能,從而達到更高水平的程度。作為高靈敏度和微區分析的開(kāi)拓者,島津公司非常自信地向用戶(hù)奉獻出XRF-1800型X射線(xiàn)熒光光譜儀。
· 在波長(cháng)色散型裝置中,250μm微區分布成像分析功能(已取得專(zhuān)利)可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。
· 利用高次譜線(xiàn)進(jìn)行準確的定性/定量分析(專(zhuān)利申請中)
高次譜線(xiàn)的判定更加準確,提高了定性定量分析的準確度/可靠性。
利用XRF-1800的高次譜線(xiàn)分析剎車(chē)片實(shí)例· 測定高分子薄膜的膜厚與無(wú)機成分分析的背景基本參數(BG-FP)法
利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線(xiàn)分析不能得到的氫(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普頓散射線(xiàn)的理論強度作為高分子薄膜 的信息。
使用XRF-1800進(jìn)行的膜厚測定、薄膜測定實(shí)例
· 微區分析結構
獨自開(kāi)發(fā)的特殊形狀的滑動(dòng)式視野限制光欄,利用r方向滑動(dòng)與樣品旋轉控制的q轉動(dòng),可以在30mm直徑內的任意位置進(jìn)行分析。· 利用CCD相機可以直接觀(guān)察樣品(選配件)
在測定室導入樣品的位置上,將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置,通過(guò)CCD攝取樣品的圖像,可使測定位置與圖像相吻合。
(專(zhuān)利申請中)· 配備高可靠性、長(cháng)壽命的4kW薄窗X射線(xiàn)管
配備平均壽命在5年以上的高可靠性X射線(xiàn)管。與傳統的3kWX射線(xiàn)管相比,輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。· 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
對應于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應的分析條件,在這基礎上可編制的分析條件??筛鶕煌馁|(zhì)
判定、品種分類(lèi)、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進(jìn)行判定、檢索。※如有外觀(guān)及規格變動(dòng),恕不另行通知。